X射線光譜分析過程中如何選擇測試條件

發布日期：2020-03-13 作者：點擊：

　　選擇測試條件是光譜分析過程中復雜關鍵的部分。適當的測試條件意味著能夠測量元素的PPM水平。為了達到佳的分析測試條件，須遵循兩個基本原則：X射線源須在被測元素的吸收峰上方有一個明顯的峰。 K線或L線的選擇取決于儀器的測量范圍。通常，更常用K線測量。X射線源的峰越接近待測元素的吸收峰，測試的強度和靈敏度（數值/秒/ PPM）越高。理想情況下，輻射源應與要測量的元素的吸收峰一致，但這很難實現。另一個基本原理是在要測量的元素區域中小化X射線的背景噪聲。

　　但是，這兩個原則相互矛盾。通常，X射線探傷在高背景噪音時會達到高靈敏度，而在低背景噪音時則靈敏度差。此外，當靈敏度高時，也可以達到佳的理論檢測極限；而當背景噪聲低時，凈計數率提取，矩陣校正和長期穩定性分析則好。因此，佳分析結果是在考慮儀器硬件的情況下，找到這兩個原理之間的佳平衡。

X射線探傷

　　X射線管發射的spectrum致輻射的光譜范圍從0到n千伏，其中n是射線管的工作電壓。 X射線管還會發射目標的特征光譜線，因此如何選擇目標是要看它是否能夠大程度地激發待測元素。由于X射線的強度通常與目標元素的原子序數成正比，因此鎢靶通常具有高的強度。目標可以是任何高熔點金屬，目標的選擇通常包括Sc，Ti，Cr，Fe，Co，Ni，Co，Y，Zr，Mo，Rh，Pd，Ag，W和Pt。

　　具有多個目標的X射線管已應用于光譜儀。操作員可以為要測量的不同元素選擇不同的目標。選擇原則是目標的特征線能量高于待測元素的吸收極限，并且至少是檢測器分辨率的半角寬度的2-3倍。如果沒有靶滿足上述要求，則可以選擇高原子序數以獲得大的X射線通量。

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